The Analysis of Capacitance-Voltage and Conductance voltage Characteristics of Zr/p-Si Schottky Diodes with a Native Oxide Interfacial Layer at High Frequencies

---

ALDEMİR D. A., ÖZDEMİR A. F., UÇAR N.

International Natural Science, Engineering and Materials Technology Conference (NEM 2019), 9 - 10 Eylül 2019, ss.87, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Sayfa Sayıları: ss.87
• Süleyman Demirel Üniversitesi Adresli: Evet