The Influence of Annealing Temperature on the Structural, Optical and Electrical Properties of Polycrystalline AgIn5Se8 Thin Films and Device Application

ÇOLAKOĞLU T., KALELİ M., PARLAK M., KARAAĞAÇ H., Erçelebi Ç.

NANOMAT 2008, Ankara, Türkiye, 24 - 25 Nisan 2008, ss.63, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Ankara
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.63
  • Süleyman Demirel Üniversitesi Adresli: Hayır